针对这一问题,中国科学院沈阳自动化研究所数字工厂研究室王卓课题组提出了一种基于深度学习的通用框架,用于对前述两种电子显微镜所产生图像中的纳米颗粒形貌进行快速、准确地在线统计分析. 该项研究近期获国际学术期刊Nanoscale (影响因子8.307)封面(Outside Front Cover)刊载,文章题目是A deep learning-based framework for automatic analysis of nanoparticle morphology in SEM/TEM images。
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