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大连化物所举行“多晶XRD分析最新技术及其在材料表征中的应用”学术报告会
2010-08-18   大连化学物理研究所 【

Dr. Hans te Nejenhuis做报告

8月17日上午,荷兰PANAlytical公司多晶XRD应用专家Dr. Hans te Nejenhuis在中科院大连化学物理研究所举行了“多晶XRD分析最新技术及其在材料表征中的应用”学术报告会。来自该所相关研究室的科研人员及研究生共计40余人参加了报告会。

Hans 博士重点介绍了Computed Tomography(CT) Analysis 、Pair Distribution Function (PDF) Analysis、Non-ambient Analysis、SAXS (小角散射技术) Analysis等最新XRD分析技术在催化剂等多种材料结构表征中的应用。报告引起参会人员的很大兴趣,随后与会人员与Hans 博士就一些学术问题展开了热烈讨论。本次报告会的适时举行,使大连化物所相关研究人员和学生受益匪浅。

 
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